鎢針>>
探針
LED晶粒點(diǎn)測(cè)與分檢是LED產(chǎn)品生產(chǎn)過程中必要且重要的工作，而探針即是應(yīng)用于LED晶粒點(diǎn)測(cè)制程，通常會(huì)按照電性值、亮度、波長(zhǎng)、ESD等幾個(gè)關(guān)鍵數(shù)值進(jìn)行測(cè)試與分檢，再進(jìn)行之后的封裝工程，因此，是LED制造中對(duì)制造成本影響相當(dāng)大的重要制程。
應(yīng)用范圍：
（1）適用于發(fā)光二極管 LED 晶粒制程中光電特性點(diǎn)測(cè)；
（2）適用于半導(dǎo)體雷射組件如 VCSEL, EELD, DFB 晶粒制程中光電特性點(diǎn)測(cè)；
（3）適用于光感測(cè)組件如 Photodiode (PD), Phototransistor (PTR), Schottky diode, Zener diode晶粒制程中光電特性點(diǎn)測(cè)。
主要材質(zhì)：
1.PA合金
2.PT合金
3.GC金銅合金
4.鈹銅合金
5.鎢鋼合金
6.純鎢
7.鎢錸合金
8.塑料
如果您有任何疑問或詢價(jià)請(qǐng)聯(lián)系我們。
郵箱:sales@chinatungsten.com
電話: 0592 5129696 / 0592 5129595
更多信息>>